[发明专利]光学拾取装置无效

专利信息
申请号: 200710146869.7 申请日: 2007-08-24
公开(公告)号: CN101131832A 公开(公告)日: 2008-02-27
发明(设计)人: 滨冈美佳;藤井仁;长岛贤治 申请(专利权)人: 船井电机株式会社
主分类号: G11B7/135 分类号: G11B7/135;G02F1/13
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 王玉双
地址: 日本大阪*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种光学拾取装置,包括多个用于发射具有不同波长的光束的光源;用于将从光源发射的光束聚焦在光学记录介质的记录表面上的物镜;和用于接收从记录表面反射的光束的光检测器。从光源发射的光束包括具有彼此不同波长的第一光束和第二光束,第一光束通过有限系统入射在物镜上,第二光束通过无限系统入射在物镜上,第一光束和第二光束的反射光到达光检测器经过的路径互相相同,沿第一光束和第二光束之一的光轴方向用于补偿聚焦位置的全息元件设置在只有反射光经过的并且位于光检测器之前的位置处。
搜索关键词: 光学 拾取 装置
【主权项】:
1.一种光学拾取装置,包括:多个光源,其用于发射具有不同波长的多个光束;物镜,其用于将从所述光源发射的光束聚焦在光学记录介质的记录表面上;和光检测器,其用于接收从所述记录表面反射的反射光束,其中从所述光源发射的光束包括彼此具有不同波长的第一光束和第二光束,所述第一光束通过有限系统入射在所述物镜上,所述第二光束通过无限系统入射在所述物镜上,所述第一光束和第二光束的反射光束到达所述光检测器所经过的路径彼此相同,并且用于补偿所述第一光束和第二光束之一的光轴方向的聚焦位置的全息元件设置在只有反射光束经过的、并且位于所述光检测器之前的位置处。
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