[发明专利]测力装置和基准单元有效
| 申请号： | 200710148272.6 | 申请日： | 2007-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN101140182A | 公开（公告）日： | 2008-03-12 |
| 发明（设计）人： | D·雷伯;H－R·布克哈德 | 申请（专利权）人： | 梅特勒－托利多公开股份有限公司 |
| 主分类号： | G01G23/10 | 分类号： | G01G23/10;G01G7/02;G01G7/04 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 王永建 |
| 地址： | 瑞士格*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 一种测力装置(1000)，其包括测量单元(100)和基准单元(100R)，所述基准单元(100R)用于提供基准量、基准电流(IREF)或基准电压(UREF)，借助于所述基准单元(100R)，待测定的测量对象的力(FMO)可通过测量单元(100)测量。根据本发明，基准单元(100)为一测力装置，其加载有基准质量(mREF)并根据电磁力补偿原理产生基准电流(IREF)，该基准电流可通过测量和调节装置(3R，4R)调节，以使得在由基准杠杆(105R)保持的第一基准线圈(1R；1Ra)中，基准电流(IREF)产生一磁场，该磁场与基准磁体(2R；2－2R)的磁场相互作用，从而使得在基准杠杆(105R)上施加一磁力，其中，同样作用于基准杠杆上的基准质量(mREF)的力(FREF)可被所述磁力补偿。 | ||
| 搜索关键词： | 测力 装置 基准 单元 | ||
【主权项】：
1.一种测力装置(1000)，其带有测量单元(100)，并且还带有用于提供基准量、基准电流(IREF)或基准电压(UREF)的基准单元(100R)，借助于所述基准单元(100R)，待测定的测量对象的力(FMO)可通过所述测量单元(100)被测量和/或数字化，其特征在于，所述基准单元(100)为一测力装置，其加载有基准质量(mREF)，并根据电磁力补偿原理产生基准电流(IREF)，所述基准电流(IREF)可借助于一测量和调节装置(3R，4R)被控制，由此使得在由一基准杠杆(105R)保持的第一基准线圈(1R，1Ra)中，所述基准电流(IREF)产生一磁场，所述磁场与一基准磁体(2R；2-2R)的磁场相互作用，以使得一磁力施加于所述基准杠杆(105R)上，其中同样作用于所述基准杠杆上的基准质量(mREF)的力(FREF)可由所述磁力补偿。
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