[发明专利]半导体元件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200710149603.8 申请日: 2007-09-05
公开(公告)号: CN101299418A 公开(公告)日: 2008-11-05
发明(设计)人: 余振华;邱文智;吴文进 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L23/52
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 陈晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种半导体元件及其制造方法,该方法包括:提供半导体衬底,在半导体衬底内形成导孔,以可抛弃式材料例如非结晶的碳填充导孔,在衬底上形成覆盖导孔的介电层,进行背面蚀刻以暴露出导孔内的可抛弃式材料。沉积背面介电层覆盖暴露的导孔,然后形成小开口,并除去可抛弃式材料,这例如通过各向同性蚀刻工艺达成。可使用金属填充导孔并将其作为导体,或是以介电材料填充,此外,也可以不填充导孔而将其作为空气间隙。根据本发明,可较容易地以金属或介电材料填充导孔,且填充结果可靠,用于高深宽比导孔可得到较高元件密度;本发明可与现有工艺兼容且易于整合;本发明还可使内连线受到较低程度的RC延迟。
搜索关键词: 半导体 元件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体元件的制造方法,包括以下步骤:提供衬底;在该衬底内形成导孔;以可抛弃式材料填充该导孔;在被填充的该导孔上方形成第一介电层;暴露出一部分的该可抛弃式材料;以及除去该可抛弃式材料。
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