[发明专利]用于磁头滑块接触判断的装置和磁头滑块接触判断方法无效

专利信息
申请号: 200710152182.4 申请日: 2007-09-14
公开(公告)号: CN101178905A 公开(公告)日: 2008-05-14
发明(设计)人: 伊海佳昭;今村孝浩;藤卷徹;横畑徹 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G11B5/455 分类号: G11B5/455;G11B21/21;G11B5/60
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 代理人: 赵淑萍
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供了一种用于磁头滑块接触判断的装置和磁头滑块接触判断方法。AC电源被连接到安装在磁头滑块上的写线圈,用于判断磁头滑块与存储介质的接触。该AC电源输出具有特定频率的交流电流。测量电路测量被提供给写线圈的电流的指标序列。与该特定频率相对应的分量被从指标序列中抽取出。这消除了与除该特定频率之外的频率相对应的分量,即,噪声。检测电路基于在该特定频率处出现的序列的幅度的改变,检测磁头滑块和存储介质之间的接触。从而可以可靠地检测出磁头滑块和存储介质之间的接触。
搜索关键词: 用于 磁头 接触 判断 装置 方法
【主权项】:
1.一种用于磁头滑块接触判断的装置,包括:交流电源,所述交流电源连接到安装在所述磁头滑块上的写线圈,所述交流电源输出具有特定频率的交流电流;测量电路,所述测量电路测量被提供给所述写线圈的电流的指标序列;以及检测电路,所述检测电路连接到所述测量电路,所述检测电路基于在所述特定频率处出现的序列的幅度改变,检测所述磁头滑块和存储介质之间的接触。
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