[发明专利]加热装置、定影装置和成像装置有效
申请号: | 200710153380.2 | 申请日: | 2007-09-18 |
公开(公告)号: | CN101251741A | 公开(公告)日: | 2008-08-27 |
发明(设计)人: | 马场基文;为政博史 | 申请(专利权)人: | 富士施乐株式会社 |
主分类号: | G03G15/20 | 分类号: | G03G15/20;H05K7/20;G03G15/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 党晓林 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种加热装置、定影装置和成像装置。该加热装置具有产生磁场的磁场产生单元、发热层以及加热/旋转单元。所述发热层布置成与所述磁场产生单元相对,并至少通过所述磁场引发电磁感应而产生热。所述加热/旋转单元包括支撑所述发热层的支撑层,并具有n(n≥2)层金属层。 | ||
搜索关键词: | 加热 装置 定影 成像 | ||
【主权项】:
1.一种加热装置,该加热装置包括:磁场产生单元,该磁场产生单元产生磁场;以及加热/旋转单元,该加热/旋转单元布置成与所述磁场产生单元相对,并具有n(n≥2)层金属层,所述金属层满足以下条件(a)、(b)和(c),并包括:至少一个发热层,该至少一个发热层通过所述磁场引发电磁感应而产生热;和支撑层,该支撑层支撑所述发热层;(a)所述金属层的总厚度t大于或等于30μm并小于或等于200μm;(b)满足下式(1)和式(2):金属层的总厚度t<δ1+δ2+δ3+…+δn 式(1)第n层金属层的厚度tn<δn 式(2)其中,δ为金属的表皮深度,第一层、第二层、第三层、…、第n层的表皮深度δ1、δ2、δ3、…、δn为 ρn为各金属层的电阻率,f为所述磁场产生单元处的信号频率,而μn为各金属层在室温下的相对导磁率;以及(c)满足下式(3):1/R≤1/R1+1/R2+1/R3+…+1/Rn 式(3)其中,R为电阻率值和厚度的比值,且R1=ρ1/t1,R2=ρ2/t2,R3=ρ3/t3,以及Rn=ρn/tn。
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