[发明专利]硬件模块测试方法及系统有效

专利信息
申请号: 200710164258.5 申请日: 2007-10-17
公开(公告)号: CN101150456A 公开(公告)日: 2008-03-26
发明(设计)人: 崔文会;王卓勇;石檬 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04L12/26 分类号: H04L12/26;G06Q50/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 尚志峰;吴孟秋
地址: 518057广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种硬件模块测试方法及系统。其中,该硬件模块测试方法包括以下步骤:S102,分析硬件模块需要经历的测试场合,收集各测试场合的测试特点;S104,对各测试场合的测试特点进行统计,分离出各测试场合的独有测试特点和公有测试特点;S106,根据各测试场合的独有测试特点,建立各测试场合的测试专用执行单元,并根据各测试场合的公有测试特点,建立各测试场合的测试公用执行单元;S108,利用各测试场合的测试专用执行单元和测试公用执行单元,对硬件模块在各测试场合的功能或者性能进行测试。通过本发明,可以大大节省测试成本投入,提高开发和测试效率。
搜索关键词: 硬件 模块 测试 方法 系统
【主权项】:
1.一种硬件模块测试方法,其特征在于,包括以下步骤:分析硬件模块需要经历的测试场合,收集各测试场合的测特点;对所述各测试场合的测试特点进行统计,分离出所述各测试场合的独有测试特点和公有测试特点;根据所述各测试场合的独有测试特点,建立所述各测试场合的测试专用执行单元,并根据所述各测试场合的公有测试特点,建立所述各测试场合的测试公用执行单元;以及利用所述各测试场合的测试专用执行单元和测试公用执行单元,对所述硬件模块在所述各测试场合的功能或者性能进行测试。
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