[发明专利]用数字液体流量计改进低介电常数介质膜的初始层的方法无效

专利信息
申请号: 200710165136.8 申请日: 2007-10-29
公开(公告)号: CN101187011A 公开(公告)日: 2008-05-28
发明(设计)人: 达斯廷·W·胡;胡安·卡洛斯·罗奇-阿尔维斯;亚历山德罗斯·T·迪莫斯;凯尔文·陈;纳加拉简·雷杰戈帕兰;维斯韦斯瓦伦·西瓦拉马克里史南 申请(专利权)人: 应用材料股份有限公司
主分类号: C23C16/30 分类号: C23C16/30;C23C16/448;C23C16/505
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人: 徐金国
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开了一种用于沉积有机硅化介质层的方法,所述方法通过将衬底定位在具有电极的处理腔室中,将一种或多种氧化气体流入处理腔室,将有机硅化合物从第一大容量储存容器中以第一有机硅流速经过第一数字液体流量计流到第一蒸发器注射阀,将有机硅化合物蒸发并将该有机硅化合物和一种载气流到处理腔室中,保持第一有机硅流速以在RF电源存在下沉积初始层,将孔原物化合物从第二大容量储存器中以第一孔原物流速经过第二数字流量计流到第二蒸发器注射阀,将孔原物化合物蒸发并将该孔原物化合物和一种载气流到处理腔室中,在RF电源存在下,增加第一有机硅流速和第一孔原物流速,同时沉积过渡层,并保持第二有机硅流速和第二孔原物流速以在RF电源存在下沉积含有孔原物的有机硅化介质层。
搜索关键词: 数字 液体 流量计 改进 介电常数 介质 初始 方法
【主权项】:
1.一种沉积有机硅化介质层的方法,包括:将衬底定位在具有电极的处理腔室中;将一种或多种氧化气体流入处理腔室;将有机硅化合物从第一大容量储存容器中以第一有机硅流速经过第一数字液体流量计流到第一蒸发器注射阀;将所述有机硅化合物蒸发并将该有机硅化合物和第一载气流到所述处理腔室中;保持第一有机硅流速以在RF电源存在下沉积初始层;将孔原物化合物从第二大容量储存器中以第一孔原物流速经过第二数字流量计流到第二蒸发器注射阀;将孔原物化合物蒸发并将该孔原物化合物和第二载气流到处理腔室中;在RF电源存在下,增加第一有机硅流速和第一孔原物流速,同时沉积过渡层;以及保持第二有机硅流速和第二孔原物流速以在RF电源存在下沉积含有孔原物的有机硅化介质层。
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