[发明专利]一种感应电压测试方法有效
| 申请号： | 200710166589.2 | 申请日： | 2007-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN101382573A | 公开（公告）日： | 2009-03-11 |
| 发明（设计）人： | 林杰清 | 申请（专利权）人： | 北京星河康帝思科技开发有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/02;G01R31/26;G01R31/28;G01R19/00 |
| 代理公司： | 北京纽乐康知识产权代理事务所 | 代理人： | 田 磊;张朝元 |
| 地址： | 100083北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种感应电压测试方法，包括以下步骤：在管脚上加10KHz、5V的交流信号；通过安置在被测器件上方的感应探头测得感应电压，并经放大电路获得被测器件的状态信息；通过测得感应电压的强弱、分布状态来判断被测器件各个管脚连接的好坏及内部电路结构的好坏；使用隔离针接地或一定电位的电压源上来消除干扰。本发明有益效果为：无论相同规格型号的IC芯片或被测器件是否并联，都可准确测量电路板上各IC芯片或被测器件的状态；加强了对芯片状态的测试，可为焊接后对IC芯片的准确性、完好性提供更可靠的依据；加强了对电路板模块可靠性的测试；增强了普通元器件的的测试方法，为综合分析元器件的状态提供可靠依据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 感应 电压 测试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种感应电压测试方法，其特征在于，包括以下步骤:在管脚上加10KHz、5V的交流信号；通过安置在被测器件上方的感应探头测得感应电压并经放大电路获得被测器件的状态信息；通过测得感应电压的强弱、分布状态来判断被测器件各个管脚连接的好坏及内部电路结构的好坏。
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