[发明专利]半导体装置无效

专利信息
申请号: 200710166802.X 申请日: 2005-05-24
公开(公告)号: CN101140916A 公开(公告)日: 2008-03-12
发明(设计)人: 黑泽康则 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: H01L23/485 分类号: H01L23/485;H01L23/28;H01L23/29;H01L23/31
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李香兰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种可靠性高的半导体装置及其制造方法。半导体装置具有:半导体基板(10),形成有电极(14);树脂层(20),按照避开所述电极(14)的形式形成;连接盘(32),设在树脂层(20)上;布线(34),将电极(14)和连接盘(32)电连接;和外部端子(40),接合在连接盘(32)上。树脂层(20)包括:第1树脂部(22),避开连接盘(32)对外部端子(40)的接合面(35)的中央部,并支撑端部;和第2树脂部(24),与第1树脂部(22)相邻。第1树脂部(22)的弹性系数比第2树脂部(24)低。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
1.一种半导体装置,其中,半导体基板,其具有集成电路,形成有电极;树脂层,按照避开所述电极的形式被形成在所述半导体基板上;连接盘,其被设置在所述树脂层上;布线,用于将所述电极和所述连接盘电连接;和外部端子,其接合在所述连接盘上;所述树脂层包括:第1树脂部,其避开所述连接盘对所述外部端子的接合面的中央部,并支撑端部;和第2树脂部,其与所述第1树脂部相邻;所述第1树脂部的弹性系数比所述第2树脂部低;所述第1树脂部避开所述连接盘对所述布线的连接部的下方,在围绕所述接合面的所述中央部的周缘部的下方形成;在所述连接盘对所述布线的所述连接部的下方,形成所述第2树脂部的一部分。
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