[发明专利]具有精细接触孔的半导体器件的制造方法有效
申请号: | 200710166864.0 | 申请日: | 2007-10-23 |
公开(公告)号: | CN101174579A | 公开(公告)日: | 2008-05-07 |
发明(设计)人: | 权城铉;沈载煌;郭东华;金周泳 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L21/311 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 黄启行;穆德骏 |
地址: | 韩国京畿道水*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 示例性地公开了一种制造具有精细接触孔的半导体的方法。该方法包括在半导体衬底上形成限定有源区的隔离层。在具有隔离层的半导体衬底上形成层间电介质层。在所述层间电介质层上形成第一模塑图案。还形成第二模塑图案,其位于所述第一模塑图案之间并与其相间隔开。形成包围第一模塑图案和第二模塑图案的侧壁的掩模图案。通过去除第一模塑图案和第二模塑图案来形成开口。通过利用掩模图案作为蚀刻掩模来蚀刻层间电介质层,来形成接触孔。 | ||
搜索关键词: | 具有 精细 接触 半导体器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件的制造方法,包括:在半导体衬底上形成隔离层,所述隔离层限定所述半导体衬底内的有源区;在所述半导体衬底上形成层间电介质层;在所述层间电介质层上形成第一模塑图案;在所述层间电介质层上形成第二模塑图案,所述第二模塑图案定位于所述第一模塑图案之间,并与所述第一模塑图案间隔开;形成掩模图案,该掩模图案包围所述第一模塑图案的侧壁以及所述第二模塑图案的侧壁;去除所述第一模塑图案和所述第二模塑图案,以在所述掩模图案内形成开口;以及通过利用所述掩模图案作为蚀刻掩模来蚀刻所述层间电介质层,来形成接触孔。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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