[发明专利]液晶显示面板坏点检测及定址方法无效
| 申请号： | 200710167362.X | 申请日： | 2007-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN101446695A | 公开（公告）日： | 2009-06-03 |
| 发明（设计）人： | 蔡瑞彬;吴政鸿;黄俊荣 | 申请（专利权）人： | 均豪精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 章社杲;吴贵明 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种液晶显示面板坏点检测及定址方法，用于检测并定址一液晶显示面板上的坏点，其步骤包含定位该液晶显示面板、提供一显示信号使该液晶显示面板显示坏点、移动一具有定址功能的影像撷取装置，使坏点进入该影像撷取装置视野范围并于一屏幕显示出来、通过该影像撷取装置上的屏幕光标点标示坏点中心，以计算取得坏点位置、于屏幕显示计算取得的坏点位置，并经确认后加以记录。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶显示 面板 检测 定址 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种液晶显示面板坏点检测及定址方法，用于检测并定址液晶显示面板(10)上的坏点(12)，其特征在于，步骤包含：定位所述液晶显示面板(10)，以得知所述液晶显示面板(10)的精确位置；提供显示信号使所述液晶显示面板(10)显示所述坏点(12)；移动具有定址功能的影像撷取装置(20)，使所述坏点(12)进入所述影像撷取装置(20)视野范围并于屏幕(30)显示出来，且所述影像撷取装置(20)设有可计算取得相对所述影像撷取装置(20)的位置信息的屏幕光标点(31)；将所述屏幕光标点(31)移至标示坏点(12)中心，以计算取得所述坏点(12)的精确位置；于所述屏幕(30)显示计算取得的坏点(12)位置，并经确认后加以记录。
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