[发明专利]SPARC处理器单粒子效应检测装置与检测方法有效
| 申请号： | 200710176529.9 | 申请日： | 2007-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN101145118A | 公开（公告）日： | 2008-03-19 |
| 发明（设计）人： | 范隆;于立新;刘立全;贾樑;祝长民 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;中国航天时代电子公司第七七二研究所 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00;G01R31/00;G01R31/317 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 | 代理人： | 安丽 |
| 地址： | 100076北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种SPARC处理器单粒子效应检测装置与检测方法，检测装置包括测试电路板、高速数据采集控制单元、主控计算机、双路电源供电系统，测试电路板，主控计算机通过双线程控制可以实现单粒子闩锁与其他单粒子效应的同时监测，测试电路板上可柔性配置被测处理器和监控处理器进行自测或双处理器辅助测试，该装置的硬件结构能够满足对SPARC处理器各种单粒子效应现象的测试，该检测方法实现了对各种单粒子效应的区别性测试，解决在地面模拟辐射环境中测量SPARC处理器单粒子效应的问题。 | ||
| 搜索关键词： | sparc 处理器 粒子 效应 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.SPARC处理器单粒子效应检测装置，其特征在于：包括测试电路板(1)、高速数据采集控制单元(2)、主控计算机(3)、双路电源供电系统(4)，测试电路板(1)上设置电流控制器(12)、被测处理器(13)、被测处理器数据存储器(14)、被测处理器程序存储器(15)；双路电源供电系统(4)给被测处理器(13)单独供电，电流控制器(12)安放在被测处理器(13)和双路电源供电系统(4)之间，主控计算机(3)采用双线程同时控制测试电路板(1)：主控计算机(3)接收高速数据采集控制单元(2)从被测处理器(13)中采集的电流信号，根据电流大小发生单粒子闩锁时，主控计算机(3)通过高速数据采集控制单元(2)发送指令控制电流控制器(12)实施断电保护和自动上电启动动作；主控计算机(3)通过串口线与被测处理器(13)直接相连，被测处理器(13)通过串口线从主控计算机(3)中下载训练或测试程序，并将训练或测试程序存放在被测处理器程序存储器(15)中，测试过程中被测处理器(13)从被测处理器程序存储器(15)读取程序指令，并将程序处理中间结果暂存到被测处理器数据存储器(14)中供后续使用，程序处理结束后，被测处理器(13)将程序处理结果直接通过串口线发送给主控计算机(3)，主控计算机(3)将接收的结果去除发生单粒子闩锁时刻的数据进行保存并比较处理后显示。
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