[发明专利]用于惯性约束聚变装置全光路像差的测量和校正方法有效
| 申请号： | 200710176882.7 | 申请日： | 2007-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN101162294A | 公开（公告）日： | 2008-04-16 |
| 发明（设计）人： | 敖明武;杨平;蔡冬梅;杨泽平;饶长辉;姜文汉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G02B26/06 | 分类号： | G02B26/06 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 | 代理人： | 贾玉忠;卢纪 |
| 地址： | 61020*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 用于惯性约束聚变装置的全光路像差的测量和校正方法，将哈特曼波前传感器放置在激光放大器之后的光路中探测近场波前，将反射变形镜放置在哈特曼波前传感器之前的光路中，将CCD放置在全光路远场，以探测焦斑强度分布，动态像差由哈特曼波前传感器直接测量，静态相差由反射变形镜、哈特曼波前传感器和远场CCD相互配合共同测量，当驱动反射变形镜，哈特曼波前传感器记录下变形镜调制的不同波前，同时远场CCD记录下相应的远场强度；根据记录下的不同近场调制波前和相应的远场强度数据对，利用迭代算法计算出惯性约束聚变装置全光路静态像差，驱动反射变形镜将该像差校正。本发明实现了ICF装置全光路像差的测量和校正。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 惯性 约束 聚变 装置 全光路像差 测量 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.用于惯性约束聚变装置的全光路像差的测量和校正方法，其特征在于：将哈特曼波前传感器放置在惯性约束聚变装置中激光放大器之后的光路中探测近场波前，将反射变形镜放置在哈特曼波前传感器之前的光路中，将CCD放置在全光路远场，以探测焦斑强度分布，惯性约束聚变系统像差分为动态、和静态两类，当聚变装置发射动态强光时，动态像差由哈特曼波前传感器直接测量；静态相差由反射变形镜、哈特曼波前传感器和远场CCD相互配合共同测量，当惯性约束聚变装置发射静态弱光时，驱动反射变形镜数次，使之调制不同的波前与主光路像差相叠加，此时整个惯性约束聚变装置光学系统的远场焦斑也发生各种不同的变化，哈特曼波前传感器记录下反射变形镜调制的不同波前，同时远场CCD记录下相应的远场强度；根据记录下的不同近场调制波前和相应的远场强度数据对，利用迭代算法计算出惯性约束聚变装置全光路静态像差，动态像差与静态像差之和即是惯性约束聚变装置全光路像差；根据测量到的全光路像差，驱动反射变形镜将该像差校正。
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