[发明专利]一种射频硬件模块的测试方法有效

专利信息
申请号: 200710176971.1 申请日: 2007-11-07
公开(公告)号: CN101159498A 公开(公告)日: 2008-04-09
发明(设计)人: 崔文会;罗文胜;苏毓云;田建伟;何祎 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 代理人: 王黎延
地址: 518057广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种射频硬件模块的测试方法,该方法包括:将射频硬件模块的测试过程中的每个测试任务划分为多个测试子任务。在执行测试任务时,依次执行测试子任务,如果当前测试子任务执行成功,执行下一个测试子任务;一旦测试子任务出现超时或者异常,立即终止测试任务,同时输出当前测试任务标志、当前测试子任务的标志以及对应故障的信息。本发明提出的射频硬件模块的测试方法,将每个测试任务划分为多个测试子任务,具有以下优点:使用户可以在测试过程中对测试进行有效控制、及时获取重要的测试信息;实现快速的故障定位;便于程序的维护和移植。
搜索关键词: 一种 射频 硬件 模块 测试 方法
【主权项】:
1.一种射频硬件模块的测试方法,其特征在于,所述射频硬件模块测试方法包括:将测试过程中的测试任务划分为多个测试子任务,在执行每个测试任务时,依次执行该测试任务的测试子任务,如果出现测试子任务出现故障的情况,立即终止测试任务;否则,执行完所有的测试子任务后,终止测试任务。
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