[发明专利]一种硬件模块的测试系统及方法有效
| 申请号： | 200710176973.0 | 申请日： | 2007-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN101159499A | 公开（公告）日： | 2008-04-09 |
| 发明（设计）人： | 崔文会;吴学德;罗文胜;王红展 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00;H04L12/26;H04Q7/34 |
| 代理公司： | 北京汇泽知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王黎延 |
| 地址： | 518057广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种硬件模块的测试系统，该系统主要包括：硬件模块、测试封装、设备仪表和测试后台，其中，测试封装主要用于配合硬件模块内部硬件测试、对外接口测试以及硬件指标测试，本发明还公开了一种硬件模块的测试方法，采用测试封装配合硬件模块的测试，并将测试代码和正式代码进行分离。本发明的硬件模块的测试系统及方法，由于增加集成了设备仪表部分功能的测试封装来配合硬件模块的测试，提高了测试效率合硬件模块的生产效率，并降低了测试成本，同时，正式代码和测试代码的分离，增强了代码的可移植性，更易于维护。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 硬件 模块 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种硬件模块的测试系统，其特征在于，该系统主要包括：硬件模块、测试封装、设备仪表和测试后台，所述测试封装用于配合硬件模块的测试；所述测试后台用于对测试过程进行控制、设置测试参数以及数据读取和处理；所述设备仪表用于输出测试过程中的测试数据。
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