[发明专利]物质识别方法和设备有效
| 申请号： | 200710177405.2 | 申请日： | 2007-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN101435783A | 公开（公告）日： | 2009-05-20 |
| 发明（设计）人： | 陈志强;张丽;康克军;王学武;黄清萍;李元景;刘以农;赵自然;肖永顺 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司;清华大学 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/087;G01N23/10 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 王波波 |
| 地址： | 100084北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 公开了一种物质识别方法和设备，该方法包括步骤：用高能射线和低能射线透射被检物体，以获得被检物体的高能透射图像和低能透射图像，所述高能图像中的每个像素的值表示高能射线对被检物体的相应部分的高能透明度，而所述低能图像中每个像素的值表示低能射线对被检物体的相应部分的低能透明度；针对每个像素，计算所述高能透明度的第一函数的值和所述高能透明度和所述低能透明度的第二函数的值；以及通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物质的类型。利用本发明，不仅能够获得被检查物体的透射图像，而且能够获得被检查物体中的材料信息。 | ||
| 搜索关键词： | 物质 识别 方法 设备 | ||
【主权项】：
1、一种物质识别方法，包括步骤：用高能射线和低能射线透射被检物体，以获得被检物体的高能透射图像和低能透射图像，所述高能图像中的每个像素的值表示高能射线对被检物体的相应部分的高能透明度，而所述低能图像中每个像素的值表示低能射线对被检物体的相应部分的低能透明度；针对每个像素，计算所述高能透明度的第一函数的值和所述高能透明度和所述低能透明度的第二函数的值；以及通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物质的类型。
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