[发明专利]单片集成砷化镓基MHEMT和PIN二极管材料结构有效

专利信息
申请号: 200710178311.7 申请日: 2007-11-28
公开(公告)号: CN101447484A 公开(公告)日: 2009-06-03
发明(设计)人: 徐静波;张海英;叶甜春 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L27/06 分类号: H01L27/06;H01L29/778
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 100029*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种单片集成GaAs基MHEMT和PIN二极管材料结构,该结构由GaAs基MHEMT和PIN二极管两部分组成,所述GaAs基MHEMT和所述PIN二极管被N型高掺杂腐蚀截止层InP隔开;所述GaAs基MHEMT由在GaAs衬底上依次分子束外延生长的缓冲层GaAs、应变缓冲层InxAl1-xAs、沟道下势垒层In0.52Al0.48As、沟道层In0.53Ga0.47As、空间隔离层In0.52Al0.48As、平面掺杂层、势垒层In0.52Al0.48As和N型高掺杂盖帽层In0.53Ga0.47As构成;所述N型高掺杂腐蚀截止层InP在所述N型高掺杂盖帽层In0.53Ga0.47As上分子束外延生长而成;所述PIN二极管由在N型高掺杂腐蚀截止层InP上依次分子束外延生长的N型掺杂层In0.53Ga0.47As、不掺杂层In0.53Ga0.47As和P型掺杂层In0.53Ga0.47As构成。本发明将GaAs基MHEMT和PIN二极管集成在同一块衬底上,实现单片集成GaAs基MHEMT和PIN二极管。
搜索关键词: 单片 集成 砷化镓基 mhemt pin 二极管 材料 结构
【主权项】:
1、一种单片集成砷化镓GaAs基应变高电子迁移率晶体管MHEMT和PIN二极管材料结构,其特征在于,该结构由GaAs基MHEMT和PIN二极管两部分组成,所述GaAs基MHEMT和所述PIN二极管被N型高掺杂腐蚀截止层InP隔开;所述GaAs基MHEMT由在GaAs衬底上依次分子束外延生长的缓冲层GaAs、应变缓冲层InxAl1-xAs、沟道下势垒层In0.52Al0.48As、沟道层In0.53Ga0.47As、空间隔离层In0.52Al0.48As、平面掺杂层、势垒层In0.52Al0.48As和N型高掺杂盖帽层In0.53Ga0.47As构成;所述N型高掺杂腐蚀截止层InP在所述N型高掺杂盖帽层In0.53Ga0.47As上分子束外延生长而成;所述PIN二极管由在N型高掺杂腐蚀截止层InP上依次分子束外延生长的N型掺杂层In0.53Ga0.47As、不掺杂层In0.53Ga0.47As和P型掺杂层In0.53Ga0.47As构成。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710178311.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top