[发明专利]基板测试电路有效
| 申请号： | 200710178946.7 | 申请日： | 2007-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN101452123A | 公开（公告）日： | 2009-06-10 |
| 发明（设计）人： | 陈宇鹏;田震寰;权基瑛 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘 芳 |
| 地址： | 100176北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基板测试电路，包括测试总线及与所述测试总线相连的测试信号端，所述基板中的待测信号线通过信号连接端连接到所述测试总线上，其中：所述测试总线上设置有多个信号接入端；每个所述信号接入端与所述测试信号端之间连接有一条测试支路；每条所述测试支路的电阻值相同。通过本发明，由于引入了多个信号接入端，添加具有相同阻值的测试支路，使得在不改变工艺流程和设备硬件结构的情况下，使显示屏各处的测试信号输入电阻和阻抗大小达到基本一致，较好的平均了各信号线的输入电阻和阻抗，从而保证了待测像素区内的测试信号没有区域性的明显衰减，克服了面板尺寸的限制，以实现对大型号的面板的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 | ||
【主权项】：
1、一种基板测试电路，包括测试总线及与所述测试总线相连的测试信号端，所述基板中的待测信号线通过信号连接端连接到所述测试总线上，其特征在于：所述测试总线上设置有多个信号接入端；每个所述信号接入端与所述测试信号端之间连接有一条测试支路；每条所述测试支路的电阻值相同。
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