[发明专利]光学拾取装置无效
| 申请号： | 200710186050.3 | 申请日： | 2007-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN101178915A | 公开（公告）日： | 2008-05-14 |
| 发明（设计）人： | 三宅浩二 | 申请（专利权）人： | 夏普株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/135 | 分类号： | G11B7/135;G11B7/125 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 沈昭坤 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供了在信息记录介质上进行再现和记录中至少之一的情况下能够精确检测输出激光束光量的不昂贵的光学拾取装置。来自第一光源1的不透过分光元件7的波长选择膜6的光束被第一反射膜10反射到朝光学监视器5的方向上。来自第二光源2的不透过分光元件7的波长选择膜6的光束被第二反射膜11反射到朝光学监视器5的方向上。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 拾取 装置 | ||
【主权项】：
1.一种光学拾取装置，包括：发射第一激光束的第一光源，发射波长与所述第一激光束的波长不同的第二激光束的第二光源，分光元件，具有用于反射从所述第一光源发射的所述第一激光束并允许从所述第二光源发射的所述第二激光束从其透过的波长选择膜、用于反射从所述第一光源发射并且未入射到所述波长选择膜上的所述第一激光束的第一反射部分、以及用于反射从所述第二光源发射并且未入射到所述波长选择膜上的所述第二激光束的第二反射部分，物镜，用于将从所述第一光源发射并由所述波长选择膜反射的所述第一激光束聚焦到信息记录介质的记录表面上以及用于将从所述第二光源发射，并透过所述波长选择膜的所述第二激光束聚焦到所述信息记录介质的所述记录表面上，以及光学监视器，用于检测从所述第一光源发射并由第一反射部分反射的第一激光束的光量以及用于检测从所述第二光源发射并由所述第二反射部分反射的第二激光束的光量。
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