[发明专利]一种用于并行计算机系统的带外诊断测试接口及测试方法无效

专利信息
申请号: 200710192607.4 申请日: 2007-12-14
公开(公告)号: CN101183321A 公开(公告)日: 2008-05-21
发明(设计)人: 蒋句平;田宝华;郑明玲;屈婉霞;窦勇;庞征斌;曹跃胜;李永进;刘军;邓让钰;吴宏;谢伦国 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科学技术大学
主分类号: G06F11/00 分类号: G06F11/00
代理公司: 湖南兆弘专利事务所 代理人: 赵洪
地址: 410073湖南省长沙市砚瓦池正街47号*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种用于并行计算机系统的带外诊断测试接口及测试方法,它包括外部连接端口单元和内部诊断测试逻辑单元,所述外部连接端口单元包括边界扫描测试访问端口TAP和与微处理器相连的RS232串行接口,所述内部诊断测试逻辑单元包括诊断测试指令寄存器、诊断测试数据寄存器、主机指令寄存器、主机数据寄存器、系统内部错误和状态寄存器、TAP控制器、诊断测试逻辑控制器、串口控制器以及中断控制逻辑单元。本发明是一种结构简单、操作简便、可靠性和稳定性高的用于并行计算机系统的带外诊断测试接口及测试方法。
搜索关键词: 一种 用于 并行 计算机系统 诊断 测试 接口 方法
【主权项】:
1.一种用于并行计算机系统的带外诊断测试接口,其特征在于它包括外部连接端口单元和内部诊断测试逻辑单元,所述外部连接端口单元包括边界扫描测试访问端口TAP和与微处理器相连的RS232串行接口,所述内部诊断测试逻辑单元包括:诊断测试指令寄存器,用于存储诊断测试指令;诊断测试数据寄存器,用于存储诊断测试数据或者诊断测试指令的执行结果;主机指令寄存器,微处理器直接访问,用于存储微处理器发送过来的错误处理指令;主机数据寄存器,微处理器直接访问,用于存储微处理器发送过来的错误处理数据;系统内部错误和状态寄存器,节点控制器将系统内部各个模块产生的错误以及一些关键状态信息存储在此寄存器内;TAP控制器,用于实现对诊断测试指令/数据寄存器、主机指令/数据寄存器、系统内部错误和状态寄存器的读写访问控制;诊断测试逻辑控制器,用于对系统主控管理模块加载的诊断测试指令进行解析,产生相应的控制信号来启动硬件对诊断测试指令自动处理;串口控制器,实现串口通信控制功能,为系统提供控制台终端服务;中断控制逻辑单元,根据内部错误和状态寄存器的内容及微处理器的错误处理指令生成相应的错误中断信号。
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