[发明专利]用于光学地测量印张的装置的运行方法有效
| 申请号： | 200710192772.X | 申请日： | 2007-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN101186145A | 公开（公告）日： | 2008-05-28 |
| 发明（设计）人： | C·贝尔蒂;H·恩格勒 | 申请（专利权）人： | 海德堡印刷机械股份公司 |
| 主分类号： | B41F33/00 | 分类号： | B41F33/00;B41F35/00;G01J3/46 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 曾立 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 在用于光学地测量印张(6)的装置的运行方法中，测量头(4)通过测量台(1)的清洁装置(9)全自动地或者至少部分自动地清洁，该装置包括一具有可移动的测量头(4)的测量台(1)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 测量 印张 装置 运行 方法 | ||
【主权项】：
1.用于光学地测量印张(6)的装置的运行方法，该装置包括一具有可移动的测量头(4)的测量台(1)，其特征在于：该测量头(4)通过测量台(1)的清洁装置(9)全自动地或至少部分自动地被清洁。
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