[发明专利]图像处理装置,图像处理方法及程序无效

专利信息
申请号: 200710192785.7 申请日: 2007-11-20
公开(公告)号: CN101188678A 公开(公告)日: 2008-05-28
发明(设计)人: 青木纯一 申请(专利权)人: 索尼株式会社
主分类号: H04N5/225 分类号: H04N5/225;H04N5/335;H04N5/217
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 李镇江
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供了一种图像处理装置、图像处理方法及程序。在图像处理装置中,缺陷检测单元通过将在经由图像传感器多次执行的图像拍摄操作捕获的多个图像的每个像素位置处检测到的最大像素值与用于检测白色有缺陷像素的阈值进行比较,和/或通过将在所述多个图像的每个像素位置处检测到的最小像素值与用于检测黑色有缺陷像素的阈值进行比较,来检测有缺陷像素及其缺陷等级。有缺陷像素选择单元选择预定多个具有高缺陷程度的有缺陷像素,并将与预定多个选择的有缺陷像素相关联的缺陷数据记录在缺陷数据表内。缺陷校正单元根据缺陷数据表内登记的缺陷数据校正从图像传感器输出的图像的像素的像素值。
搜索关键词: 图像 处理 装置 方法 程序
【主权项】:
1.一种适于处理从图像感测部件输出的图像的图像处理装置,其包括:用于检测有缺陷像素的缺陷检测部件;以及缺陷校正部件,用于根据其中登记了与缺陷检测部件检测到的有缺陷像素相关联的缺陷数据的缺陷数据表,校正从图像感测部件输出的图像的像素的像素值,该缺陷检测部件包括白色缺陷检测部件和黑色缺陷检测部件中的至少一个以及有缺陷像素选择部件,白色缺陷检测部件适于通过将在经由图像感测部件多次执行的图像拍摄操作捕获的多个图像的每个像素位置处检测到的最大像素值与用于检测白色缺陷的阈值进行比较,检测有缺陷像素和指示检测到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等级,黑色缺陷检测部件适于通过将在所述多个图像的每个像素位置处检测到的最小像素值与用于检测黑色缺陷的阈值进行比较,检测有缺陷像素和指示检测到的有缺陷像素的缺陷的程度的缺陷等级,该有缺陷像素选择部件用于基于缺陷等级选择预定多个具有高缺陷程度的有缺陷像素,并将与所述预定多个选择的有缺陷像素相关联的缺陷数据登记在缺陷数据表内。
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