[发明专利]具有对准标记的半导体器件以及显示设备有效
| 申请号： | 200710196144.9 | 申请日： | 2007-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN101192596A | 公开（公告）日： | 2008-06-04 |
| 发明（设计）人： | 堀井秀明 | 申请（专利权）人： | 恩益禧电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L23/544 | 分类号： | H01L23/544 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 钟强;谷惠敏 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种半导体器件(10)，其包括半导体衬底(16)和对准标记(1)。对准标记(1)提供于半导体衬底(16)上并且可光学检测。对准标记(1)包括亮区(101)和暗区(102)。亮区(101)输出从半导体衬底(16)表面反射的光。暗区(102)包括金属布线(14)，输出从金属布线(14)表面反射的光，并且其亮度低于亮区的亮度。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 对准 标记 半导体器件 以及 显示 设备 | ||
【主权项】：
1.一种半导体器件，包括：半导体衬底；以及对准标记，其构成为提供于所述半导体衬底上并可光学检测，其中所述对准标记包括：亮区，其构成为输出从所述半导体衬底表面反射的光，以及暗区，其构成为包括金属布线，输出从所述金属布线表面反射的光，并且其亮度低于所述亮区的亮度。
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