[发明专利]一种半导体器件无效
申请号: | 200710198800.9 | 申请日: | 2007-12-19 |
公开(公告)号: | CN101359688A | 公开(公告)日: | 2009-02-04 |
发明(设计)人: | 陈郁文;陈富信;黄宗义;蔡泳田 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/423 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈红 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明涉及一种半导体器件,该半导体器件包含位于衬底上的源极区和漏极区,其中源极区和漏极区掺杂第一种掺杂剂;在衬底上的源极区和漏极区之间形成的栅电极;在衬底上形成的栅间隙壁,栅间隙壁介于源极区和栅电极之间且紧邻栅电极;以及在栅间隙壁之中埋入的导电结构。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体器件 | ||
【主权项】:
1、一种半导体器件,包含:源极区和漏极区,位于一衬底上,其中该源极区和该漏极区具有第一种掺杂剂;栅电极,形成于该衬底上,且介于该源极区和该漏极区之间;栅间隙壁,位于该衬底上,且介于该栅电极和该源极区之间,并紧邻该栅电极;以及导电结构,埋入该栅间隙壁之中。
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