[发明专利]用于确定两个磁场的相位的设备以及检验定子绕组的方法无效

专利信息
申请号: 200710199917.9 申请日: 2007-10-26
公开(公告)号: CN101169459A 公开(公告)日: 2008-04-30
发明(设计)人: B·克洛普西克 申请(专利权)人: 罗伯特.博世有限公司
主分类号: G01R29/18 分类号: G01R29/18;G01R31/06;G01R31/34
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 曹若
地址: 德国斯*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于确定两个磁场(H1,H2)的相位的设备,具有控制和计算单元(108)、两个相距预先规定的距离(d)设置的与所述控制和计算单元(108)连接的磁场传感器(101,102)以及与所述控制和计算单元(108)连接的显示装置(103-107),其中,所述控制和计算单元(108)设置用于由磁场传感器(101,102)的测量值(211,212,213,214)来确定两个基本上分别加载另一磁场传感器(101,102)的磁场(H1,H2)的相位,并控制所述显示装置(103-107),使其指示确定的相位。此外本发明涉及一种检验定子绕组的方法,其中特别能够使用本发明所述的设备。
搜索关键词: 用于 确定 两个 磁场 相位 设备 以及 检验 定子 绕组 方法
【主权项】:
1.用于确定两个磁场(H1,H2)的相位的设备,其特征在于,-控制和计算单元(108),-两个相距预先规定的距离(d)设置的、与所述控制和计算单元(108)连接的磁场传感器(101,102),和-与所述控制和计算单元(108)连接的显示装置(103-107),其中,所述控制和计算单元(108)设置用于由磁场传感器(101,102)的测量值(211,212,213,214)来确定两个基本上分别加载另一磁场传感器(101,102)的磁场(H1,H2)的相位,并控制所述显示装置(103-107),使其指示确定的相位。
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