[发明专利]形状误差分析系统及方法无效
| 申请号： | 200710200159.8 | 申请日： | 2007-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN101241004A | 公开（公告）日： | 2008-08-13 |
| 发明（设计）人： | 张旨光;孙小超;李东海 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/30 | 分类号： | G01B21/30;G01B21/20 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种形状误差分析方法，包括：导入工件被测要素的点云数据；设置上述点云数据的分析类型、公差值、所显示的点、线条风格；根据所设置的分析类型利用最佳最小二乘法对上述点云数据进行几何特征拟合以得到拟合图形；计算每点与上述拟合图形的偏差；将所述偏差与所设置的公差值进行比较，以确定所量测工件此尺寸是否合格；及根据所设置的点和线条风格将所拟合图形绘制成点云图形，并根据该点云图形、所计算的偏差及上述比较结果生成图形文字报告。另外，本发明还提供一种形状误差分析系统。 | ||
| 搜索关键词： | 形状 误差 分析 系统 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种形状误差分析系统，其特征在于，该系统包括：点云导入单元，用于导入工件被测要素的点云数据，该点云数据包括点云的坐标参数；参数设置单元，用于接收用户设置的参数，该参数包括点云的分析类型、公差值、所显示的点及线条风格；几何公差分析单元，根据用户所设置的分析类型利用最佳最小二乘法对上述点云数据进行几何特征拟合，计算每个点与所拟合图形之间的偏差，并将该偏差与所述公差值进行比较，若该偏差小于或等于所述公差值，则判定所量测工件的该尺寸合格；图形绘制单元，根据所显示的点、线条风格将所拟合图形绘制成点云图形；及图形存储单元，根据所述点云图形、几何公差分析单元所计算的偏差和比较结果生成图形文字报告。
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