[发明专利]调试卡及调试方法无效
| 申请号： | 200710200678.4 | 申请日： | 2007-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN101311905A | 公开（公告）日： | 2008-11-26 |
| 发明（设计）人： | 孔祥云 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种调试卡，插接于一主板的插槽上，所述调试卡包括一可编程逻辑器件、一与所述可编程逻辑器件电性连接的PCI总线接口及一也与所述可编程逻辑器件电性连接的LPC总线接口，所述可编程逻辑器件包括一用于锁存从所述PCI及LPC总线接口传入的数据的数据锁存模块及一用于转换所述数据锁存模块中锁存的数据的数据转换模块。所述调试卡不仅支持PCI总线插槽，还支持LPC总线插槽，增强了调试卡的通用性。此外，本发明还提供一种与之相应的调试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 调试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种调试卡，插接于一主板的插槽上，所述调试卡包括一可编程逻辑器件及一与所述可编程逻辑器件电性连接的PCI总线接口，其特征在于：所述调试卡还包括一也与所述可编程逻辑器件电性连接的LPC总线接口，所述可编程逻辑器件包括一用于锁存从所述PCI及LPC总线接口传入的数据的数据锁存模块及一用于转换所述数据锁存模块中锁存的数据的数据转换模块。
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