[发明专利]镶件检测装置无效
| 申请号： | 200710201244.6 | 申请日： | 2007-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN101358944A | 公开（公告）日： | 2009-02-04 |
| 发明（设计）人： | 李凤春;刘发印 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/20 | 分类号： | G01N27/20 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种镶件检测装置，包括支架、导块与检测销；支架开设有通孔；导块装设于支架上并位于通孔的一端，导块与电源的一极电性相连；检测销活动穿设于支架的通孔内，并与电源的另一极电性相连，检测销包括检测部及接触部，检测部用于与镶件相抵接触，并在镶件的抵压力作用下移动检测销使接触部与导块相接触以接通检测回路。该镶件检测装置在检测时并利用镶件对检测销进行抵顶，使得与电源两极相连的两个电极由于检测销与导块的接触而形成回路，得到检测电流后即可判断镶件孔中镶有镶件。使用该镶件检测装置，无须通过人工进行肉眼观察并主观判断，可以有效避免检测人员的主观条件所带来的误检、漏检等情况。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 | ||
【主权项】：
1.一种镶件检测装置，包括支架、导块与检测销；所述支架开设有通孔；所述导块装设于所述支架上并位于所述通孔的一端，所述导块与电源的一极电性相连；所述检测销活动穿设于所述支架的通孔内，并与所述电源的另一极电性相连，所述检测销包括检测部及接触部，所述检测部用于与镶件相抵接触，并在所述镶件的抵压力作用下移动所述检测销使所述接触部与所述导块相接触以接通检测回路。
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