[发明专利]物体形貌测量方法有效
| 申请号： | 200710201270.9 | 申请日： | 2007-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN101358838A | 公开（公告）日： | 2009-02-04 |
| 发明（设计）人： | 刘庆;李军旗;中川威雄 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01B11/245 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种物体形貌测量方法，其包括以下步骤：(1)提供两个测量装置及一个控制器，该两个测量装置均包括可伸缩运动的测量头及感测该测量头位移的传感器，且该两个测量装置的测量头相互对准，该控制器与两个测量装置的传感器分别电连接；(2)将两个测量装置的测量头分别与被测物两相对表面接触；(3)使该两个测量头相对被测物同步运动且与被测物保持接触，两个相应的传感器将感测到的测量头的位移信息传送控制器；(4)控制器根据该位移信息计算出被测物一个截面的形状，该截面由该两个测量头在被测物表面划过的轨迹构成；(5)重复步骤(3)、(4)，测出该被测物的多个截面，该多个截面可叠合出被测物的形貌。 | ||
| 搜索关键词： | 物体 形貌 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种物体形貌测量方法，其包括以下步骤：(1)提供两个测量装置及一个控制器，该两个测量装置均包括可伸缩运动的测量头及感测该测量头位移的传感器，且该两个测量装置的测量头相互对准，该控制器与两个测量装置的传感器分别电连接；(2)将两个测量装置的测量头分别与被测物两相对表面接触；(3)使该两个测量头相对被测物同步运动且与被测物保持接触，两个相应的传感器将感测到的测量头的位移信息传送控制器；(4)控制器根据该位移信息计算出被测物一个截面的形状，该截面由该两个测量头在被测物表面划过的轨迹构成；(5)重复步骤(3)、(4)，测出该被测物的多个截面，该多个截面可叠合出被测物的形貌。
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