[发明专利]一种电子电路测试与故障诊断参数识别优化方法无效
| 申请号： | 200710303465.4 | 申请日： | 2007-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN101216530A | 公开（公告）日： | 2008-07-09 |
| 发明（设计）人： | 何怡刚;刘美容;李庆国;刘慧 | 申请（专利权）人： | 湖南大学 |
| 主分类号： | G01R31/316 | 分类号： | G01R31/316;G01R31/02;G06N3/06 |
| 代理公司： | 长沙市融智专利事务所 | 代理人： | 颜昌伟 |
| 地址： | 410006湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子电路测试与诊断参数识别优化方法，包括以下步骤：首先对单个电源激励下测试电子电路节点电压，然后与正常情况下节点电压进行比较求得节点电压差值，将电子元件参数变化量用等效电源表示，建立电路特征方程；应用最优化理论结合电路特征方程建立参数识别方程；针对此参数识别方程，应用基于罚函数法或Lagrange乘子法的任一种跨导神经网络进行求解，神经网络的解就是用等效电流源或电压源表示的电子元件参数变化量，根据参数容差确定元件是否发生故障。本电子电路测试与诊断参数识别优化方法具有快速、定位准确率高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子电路 测试 故障诊断 参数 识别 优化 方法 | ||
【主权项】：
1.一种电子电路测试与故障诊断参数识别优化方法，包括以下步骤：测试单个电源激励下电子电路各可及节点电压；将测量的节点电压与正常情况下节点电压进行比较计算节点电压差值；将电子元件参数变化量用等效电源表示，建立电路特征方程；应用最优化理论结合电路特征方程建立最小绝对值范数约束优化问题；利用普通罚函数方法融合精确罚函数方法将最小绝对值范数约束优化问题转化为无约束优化问题进行求解，神经网络的解就是用等效电流源或电压源表示的电子元件参数变化量，根据电子元件参数容差确定元件是否发生故障。
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