[发明专利]控制X射线CT系统中的X射线曝光的方法有效
申请号: | 200710308137.3 | 申请日: | 2007-12-29 |
公开(公告)号: | CN101472381A | 公开(公告)日: | 2009-07-01 |
发明(设计)人: | 晏雄伟 | 申请(专利权)人: | GE医疗系统环球技术有限公司 |
主分类号: | H05G1/30 | 分类号: | H05G1/30;H05G1/34;A61B6/03 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张雪梅;刘宗杰 |
地址: | 美国威*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明提供控制X射线CT系统中的X射线曝光的方法,包括如下步骤:建立投影面积值的比例因子r与扫描截面的几何中心的偏移量Cy的对应关系表或函数关系;对受检对象进行平扫,根据平扫数据计算出“测量的投影面积值”和投影测量值;计算扫描截面的几何中心与旋转中心的偏移量Cy;将获得的偏移量Cy带入所述的对应关系表中或函数关系中,获得与之相对应的比例因子r;根据比例因子r与测量的投影面积值计算出标准投影面积值;自动曝光功能根据计算出的标准投影面积值、投影测量值以及其它系统参数自动确定曝光所需要的管电流值并进行曝光。 | ||
搜索关键词: | 控制 射线 ct 系统 中的 曝光 方法 | ||
【主权项】:
1、一种控制X射线CT系统中的X射线自动曝光的方法,包括如下步骤:步骤10:建立投影面积值的比例因子r与扫描截面的几何中心的偏移量Cy的对应关系表或函数关系,该投影面积值的比例因子r是表示受检对象的扫描截面几何中心偏移旋转中心情况下的投影面积值与受检对象的扫描截面的几何中心位于旋转中心情况下的标准投影面积值之比;步骤11:对受检对象进行平扫,根据平扫数据计算出“测量的投影面积值”和投影测量值;步骤12:计算扫描截面的几何中心与旋转中心的偏移量Cy;步骤13:将步骤12中获得的偏移量Cy带入步骤10中所述的对应关系表中或函数关系中,获得与之相对应的比例因子r;步骤14:根据比例因子r与测量的投影面积值计算出标准投影面积值;步骤15:自动曝光功能根据计算出的标准投影面积值、投影测量值以及其它系统参数自动确定曝光所需要的管电流值并进行曝光。
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