[实用新型]用于EOS设备的测试装置无效

专利信息
申请号: 200720001201.9 申请日: 2007-01-04
公开(公告)号: CN201001129Y 公开(公告)日: 2008-01-02
发明(设计)人: 王吓弟;吴德荣;范星;石一逴 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04L12/26 分类号: H04L12/26;H04L12/46;H04J3/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 李伟;吴孟秋
地址: 518057广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种用于EOS设备的测试装置。以太网接口连接至EOS设备的以太网接口;STM-N接口连接至EOS设备的STM-N接口;测试单元分别连接至以太网接口和STM-N接口,用于生成以太网测试信号,以太网测试信号通过以太网接口传输至EOS设备,经EOS设备处理后的STM-N信号通过STM-N接口传输回测试单元,以进行测试,以及用于生成STM-N测试信号,STM-N测试信号通过STM-N接口传输至EOS设备,经EOS设备处理后的以太网信号通过以太网接口传输回测试单元,以进行测试。代替光网络测试仪或数据网络分析仪,能够对EOS设备的SDH与以太网接口进行互联测试。
搜索关键词: 用于 eos 设备 测试 装置
【主权项】:
1.一种用于EOS设备的测试装置,其特征在于,包括:以太网接口,连接至所述EOS设备的以太网接口,用于接收和发送以太网信号;STM-N接口,连接至所述EOS设备的STM-N接口,用于接收和发送STM-N信号;测试单元,分别连接至所述以太网接口和所述STM-N接口,用于生成以太网测试信号,所述以太网测试信号通过所述以太网接口传输至所述EOS设备,经所述EOS设备处理后的STM-N信号通过所述STM-N接口传输回所述测试单元,以进行测试,以及用于生成STM-N测试信号,所述STM-N测试信号通过所述STM-N接口传输至所述EOS设备,经所述EOS设备处理后的以太网信号通过所述以太网接口传输回所述测试单元,以进行测试。
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