[实用新型]微全分析系统非接触电导与荧光检测装置

摘要

本实用新型涉及一种分析仪器，具体涉及在同点同时进行非接触电导与荧光检测的微全分析系统的检测装置。在芯片的分离通道旁设置两个非接触电导电极，向其中一个检测电极输入高频信号，在另一个电极检测微通道内的溶液在两检测电极间区域的高频电导信号。荧光检测的激发光源使用发光二极管，其入射光对准微通道在两个非接触电导电极之间的区域，通过检光元件检测荧光信号。本实用新型的优点在于可实现在同点同时进行荧光检测和电导检测，获得多种信息。

主权项

1.一种微全分析系统非接触电导与荧光检测装置，包括芯片(1)、非接触电导电极(2，3)、非接触电导测量装置(4)、荧光检测装置(5)，芯片(1)上设有分离通道(6)，非接触电导电极(2，3)位于分离通道(6)侧位并接往非接触电导测量装置(4)，其特征是，荧光检测装置(5)的激发光源(7)的光路和检光元件(8)的入射光路对准芯片分离通道(6)上于两个非接触电导电极(2，3)之间的区域。