[实用新型]印制电路板缺陷的X光检测装置无效

专利信息
申请号: 200720048239.1 申请日: 2007-02-05
公开(公告)号: CN201034949Y 公开(公告)日: 2008-03-12
发明(设计)人: 黄茜;张宁 申请(专利权)人: 华南理工大学广州市海立信息技术有限公司
主分类号: G01N23/18 分类号: G01N23/18;G01R31/304
代理公司: 广州粤高专利代理有限公司 代理人: 何淑珍
地址: 510640广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种印制电路板缺陷的X光检测装置,包括可转动的X光机、PLC控制器、图像采集卡和PC智能系统;X光机与置于PC机内的图像采集卡电连接;PLC控制器与PC智能系统电连接且能够在线通信;PLC控制器与X光机电连接,控制X光机的转动,所述PC智能系统包括存储器、图像处理模块、控制模块、通信模块,当PC智能系统的控制模块发现一个或者多个X光图像未覆盖到检测对象的全部面积时,则通过PC智能系统通信模块告知PLC控制器控制X光机的转动,实现X光机与检测对象印制电路板之间相对位置的调整,直到X光图像覆盖到检测对象的全部面积。由于X光的穿透性,系统对印制电路板工艺缺陷检测的覆盖率大大提高。
搜索关键词: 印制 电路板 缺陷 检测 装置
【主权项】:
1.一种印制电路板缺陷的X光检测装置,其特征在于:所述检测装置包括可转动的X光机、PLC控制器、图像采集卡和PC智能系统;X光机与置于PC机内的图像采集卡电连接;PLC控制器与PC智能系统电连接且能够在线通信;PLC控制器与X光机电连接,控制X光机的转动;所述PC智能系统的存储器内存有印制电路板可能出现的缺陷图像分类及数字特征库。
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