[实用新型]低电容过压保护器件无效
申请号: | 200720072968.0 | 申请日: | 2007-07-27 |
公开(公告)号: | CN201097401Y | 公开(公告)日: | 2008-08-06 |
发明(设计)人: | 傅坚;李怀东;张关宝;杨力宏;张小平 | 申请(专利权)人: | 上海长园维安电子线路保护股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/747 | 分类号: | H01L29/747;H01L23/488 |
代理公司: | 上海东亚专利商标代理有限公司 | 代理人: | 董梅 |
地址: | 200092上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种涉及防雷系统中的低电容过压保护的半导体器件,尤指一种主要在高频领域应用的,其电容要求在30pF以下的低电容过压保护器件。该装置由发射结、集电结、引脚及引线框架的半导体器件等组成,该芯片由三个P-N结组成双端四层双向对称结构,每一组自上而下依次分别掺杂为N2、P2、N1、P1四层,在发射结的外侧刻有铝层A,在铝层A的外侧设有铜引脚A,在N区和P区之间设有短路孔;该半导体保护芯片的引脚通过金属引线与引线框架相连接。本实用新型的优点:该器件具有三个P-N结组成的双端四层双向对称结构,主要应用在高频领域,其电容要求在30pF以下的低电容过压保护器件,提高了可靠性,降低了成本。 | ||
搜索关键词: | 电容 保护 器件 | ||
【主权项】:
1. 一种低电容过压保护器件,该器件有发射结、集电结、引脚及引线框架的半导体器件,其特征在于:该芯片由三个P-N结组成双端四层双向对称结构,每一组自上而下依次分别掺杂为N2、P2、N1、P1四层,形成正偏发射结(103),为J1结,正偏转折结(105),为J3结,负偏集电结(104),为J2结;在发射结(103)的外侧刻有铝层A(102),在铝层A(102)的外侧设有铜引脚A(101),在N区(109)的外侧刻有铝层B(106),在铝层B(106)的外侧设有铜引脚B(107);在N区(109)和P区(110)之间设有短路孔(108);该半导体保护芯片的引脚通过金属引线与引线框架相连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海长园维安电子线路保护股份有限公司,未经上海长园维安电子线路保护股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200720072968.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:产品密码锁防伪标签
- 下一篇:全液压微电脑控制管道清淤车
- 同类专利
- 专利分类