[实用新型]低电容过压保护器件无效

专利信息
申请号: 200720072968.0 申请日: 2007-07-27
公开(公告)号: CN201097401Y 公开(公告)日: 2008-08-06
发明(设计)人: 傅坚;李怀东;张关宝;杨力宏;张小平 申请(专利权)人: 上海长园维安电子线路保护股份有限公司
主分类号: H01L29/747 分类号: H01L29/747;H01L23/488
代理公司: 上海东亚专利商标代理有限公司 代理人: 董梅
地址: 200092上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种涉及防雷系统中的低电容过压保护的半导体器件,尤指一种主要在高频领域应用的,其电容要求在30pF以下的低电容过压保护器件。该装置由发射结、集电结、引脚及引线框架的半导体器件等组成,该芯片由三个P-N结组成双端四层双向对称结构,每一组自上而下依次分别掺杂为N2、P2、N1、P1四层,在发射结的外侧刻有铝层A,在铝层A的外侧设有铜引脚A,在N区和P区之间设有短路孔;该半导体保护芯片的引脚通过金属引线与引线框架相连接。本实用新型的优点:该器件具有三个P-N结组成的双端四层双向对称结构,主要应用在高频领域,其电容要求在30pF以下的低电容过压保护器件,提高了可靠性,降低了成本。
搜索关键词: 电容 保护 器件
【主权项】:
1. 一种低电容过压保护器件,该器件有发射结、集电结、引脚及引线框架的半导体器件,其特征在于:该芯片由三个P-N结组成双端四层双向对称结构,每一组自上而下依次分别掺杂为N2、P2、N1、P1四层,形成正偏发射结(103),为J1结,正偏转折结(105),为J3结,负偏集电结(104),为J2结;在发射结(103)的外侧刻有铝层A(102),在铝层A(102)的外侧设有铜引脚A(101),在N区(109)的外侧刻有铝层B(106),在铝层B(106)的外侧设有铜引脚B(107);在N区(109)和P区(110)之间设有短路孔(108);该半导体保护芯片的引脚通过金属引线与引线框架相连接。
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