[实用新型]金属箔测厚仪的测量探头有效
| 申请号： | 200720074323.0 | 申请日： | 2007-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN201096491Y | 公开（公告）日： | 2008-08-06 |
| 发明（设计）人： | 叶道庆 | 申请（专利权）人： | 上海美维科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/06 | 分类号： | G01B7/06 |
| 代理公司： | 上海开祺知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李兰英 |
| 地址： | 201600上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种金属箔测厚仪的测量探头，包括外壳，置于外壳内的电路板，置于外壳内电路板上的带有定位孔的探针定位块，至少4根相互平行的弹簧探针垂直安装在电路板上，弹簧探针的针尖穿过探针定位块上的定位孔伸出到外壳外，弹簧探针的针尾连接有电源线和信号引出线，在电源线上串联一采样控制器。采样控制器用于控制弹簧探针与电源之间的通与断。该设计可以消除弹簧探针压缩过程对测量结果的干扰，提高探头测量的重复精度。 | ||
| 搜索关键词： | 金属 测厚仪 测量 探头 | ||
【主权项】：
1.一种金属箔测厚仪的测量探头，包括外壳，置于外壳内的电路板，置于外壳内电路板上的带有定位孔的探针定位块，其特征在于包括：至少4根相互平行的弹簧探针，垂直的安装在电路板上，弹簧探针的针尖通过探针定位块上的定位孔伸出到外壳外，弹簧探针的针尾连接有电源线和信号引出线；一采样控制器，连接在弹簧探针针尾上的电源线上，用于控制弹簧探针与电源之间的通与断。
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