[实用新型]六氟化硫泄漏点定位系统有效
| 申请号： | 200720074554.1 | 申请日： | 2007-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN201096720Y | 公开（公告）日： | 2008-08-06 |
| 发明（设计）人： | 江斌;依晓春;涂建坤;王建财;沈奶连;尹莹 | 申请（专利权）人： | 上海电缆研究所上海赛克力光电缆有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N21/39 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 | 代理人： | 余明伟 |
| 地址： | 200093上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种六氟化硫泄漏点定位系统，包括光源发生装置，用于分别产生六氟化硫吸收谱对应波长范围和不同于六氟化硫吸收谱对应波长范围的两种光；图像采集装置，用于分别采集上述两种光扫描被测设备的测试区域生成的第一图像和第二图像。进一步地，所述光源发生装置包括一个用于产生所述两种光所对应波长范围的波长可调的激光器、以及位于所述两种光的光路上的扩束镜。进一步地，所述光源发生装置包括用于产生所述两种光所对应波长范围的两个激光器以及用于切换两种光的光路切换模块。本实用新型可以准确地对六氟化硫气体泄漏点进行定位，避免了对六氟化硫泄漏点的误判。 | ||
| 搜索关键词： | 六氟化硫 泄漏 定位 系统 | ||
【主权项】：
1.一种六氟化硫泄漏点定位系统，其特征在于包括：光源发生装置，用于分别产生六氟化硫吸收谱对应波长范围和不同于六氟化硫吸收谱对应波长范围的两种光；图像采集装置，用于分别采集上述两种光扫描被测设备的测试区域生成的第一图像和第二图像。
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