[实用新型]轴承外圈漏加工检验装置无效

专利信息
申请号: 200720107793.2 申请日: 2007-03-29
公开(公告)号: CN201016851Y 公开(公告)日: 2008-02-06
发明(设计)人: 徐方良 申请(专利权)人: 浙江森春机械有限公司
主分类号: G01M13/04 分类号: G01M13/04
代理公司: 浙江翔隆专利事务所 代理人: 胡龙祥
地址: 312500浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 轴承外圈漏加工检验装置,属于检验装置,现有检验是人工完成的,存在漏检的缺陷,本实用新型包括纵向料道、活动送料块、一对导电测头和分离件,所述的纵向料道沿轴承外圈的行进方向布置;所述的活动送料块位于纵向料道上并由一横向执行元件驱动而偏离纵向料道;所述的一对导电测头与所述活动送料块对应,两导电测头之间保持有特定的位置并由竖向执行单元驱动,两个导电测头构成行程开关并经导线与一控制电路连接;所述的分离件设于纵向料道上并由受控于控制电路的变换执行单元驱动。它通过机械装置代替人工对产品进行100%全检,避免了人工疲劳造成的漏检,可以达到无一漏检,为后续作业提供了顺利进行的保障。
搜索关键词: 轴承 外圈 加工 检验 装置
【主权项】:
1.轴承外圈漏加工检验装置,包括纵向料道(16)、活动送料块(2)、一对导电测头(4、12)和分离件(17),其特征是:所述的纵向料道(16)沿轴承外圈的行进方向布置;所述的活动送料块(2)位于纵向料道(16)上并由一横向执行元件(1)驱动而偏离纵向料道(16);所述的一对导电测头(4、12)与所述活动送料块(2)对应,两导电测头(4、12)之间保持有特定的位置并由竖向执行单元(7)驱动,两个导电测头(4、12)构成行程开关(KS)并经导线与一控制电路连接;所述的分离件(17)设于纵向料道(16)上并由受控于控制电路的变换执行单元驱动。
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