[实用新型]48线扁平封装集成电路老化测试插座无效
申请号: | 200720109199.7 | 申请日: | 2007-05-10 |
公开(公告)号: | CN201112793Y | 公开(公告)日: | 2008-09-10 |
发明(设计)人: | 曹宏国 | 申请(专利权)人: | 曹宏国 |
主分类号: | H01R13/46 | 分类号: | H01R13/46;H01R13/11;H01R13/639;H01R13/629;G01R1/02;G01R31/26 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 313119浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置,尤其能对48线扁平封装集成电路元器件可靠性进行高温老化试验和性能测试的插座。本实用新型按照48线扁平封装的结构设计和尺寸要求,将插座设计成三大组成部分,即插座体、接触件和定位装置。插座体由座、盖、钩、压块和定位板组成,选用耐高温型特种工程塑料,经高温注塑成型,且插座体还是一个压紧装置,当钩向下与座啮合时,压块产生位移,被试器件压紧接触件。接触件由铍青铜材料冲压成型,采用与被试器件引出线相对应的方式、中心对称、纵向排列形式组成。插座采用由定位板和压块进行定位,被试器件的引线与接触件相对应并安装在定位板上。通电后进行高温老化试验和性能测,具有接触电阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的优点,大大提高了插座的可靠性和使用寿命。 | ||
搜索关键词: | 48 扁平封装 集成电路 老化 测试 插座 | ||
【主权项】:
1. 一种适用于48线扁平封装集成电路老化测试插座,其特征是:它是由插座体、接触件和定位装置三个部分统一组成,插座体由座、盖和钩组成,同时插座体还起着扣紧装置的作用,插座体选用进口的耐高温型特种高温工作塑料,经高温注塑成型工艺技术制造而成,接触件与被试器件引出线相对应并安装于插座体的座中。
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