[实用新型]用于测试薄膜电池组件电性能的探针有效
| 申请号： | 200720139014.7 | 申请日： | 2007-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN201184889Y | 公开（公告）日： | 2009-01-21 |
| 发明（设计）人： | 曹耀辉 | 申请（专利权）人： | 曹耀辉 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R31/36 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 066100河北省秦皇岛市北*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种用于测试薄膜电池组件电性能的探针，包括探针柄及与导线电连接的探头，所述探头由导电薄膜固定包覆在非导电弹性元件的表面组成，通过导电薄膜实现所述导线与探头间的电连接，由于本实用新型的探头由非导电的弹性元件及包覆在所述弹性元件表面的导电薄膜两部分固定连接组成，导电薄膜可以采用与被测对象导电层相同的材料，因此，测试时探头与被测对象的导电层间无电势差，测值准确，同时弹性元件及导电薄膜易购得。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 薄膜 电池 组件 性能 探针 | ||
【主权项】：
1、一种用于测试薄膜电池组件电性能的探针，包括探针柄及与导线(4)电连接的探头，其特征在于：所述探头由导电薄膜(1)固定包覆在非导电弹性元件(2)的表面组成，通过导电薄膜(1)实现所述导线(4)与探头间的电连接。
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