[实用新型]老化装置有效
| 申请号： | 200720144359.1 | 申请日： | 2007-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN201138360Y | 公开（公告）日： | 2008-10-22 |
| 发明（设计）人： | 刘云海;覃碨珺;简维廷;张荣哲 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/26;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李丽 |
| 地址： | 201203*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种老化装置，包括老化测试板，所述老化测试板的测试面上设置有若干边缘连接器；连接板，垂直连接在所述边缘连接器上，所述连接板垂直于老化测试板测试面的平面上设置有若干连接插座，用于和需要老化的半导体器件或者COB板进行连接。所述老化装置避免了现有技术中COB板在边缘连接器上的插拔，即使COB板在连接板插座上多次插拔之后损伤连接板插座，也只需要更换连接板即可，提高了同一次进行老化的半导体器件的数量，可以老化不同规格的COB板以及不同规格的半导体器件，提高了老化装置的通用性。 | ||
| 搜索关键词： | 老化 装置 | ||
【主权项】：
1.一种老化装置，包括老化测试板，所述老化测试板的测试面上设置有若干边缘连接器，其特征在于，还包括：连接板，具有第一连接面，与边缘连接器连接，第二连接面，设有若干连接插座，所述连接插座将若干需要老化的半导体器件或者COB板电连接至与第一连接面相连接的边缘连接器。
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