[实用新型]电子产品上电检测装置无效
| 申请号： | 200720149061.X | 申请日： | 2007-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN201035104Y | 公开（公告）日： | 2008-03-12 |
| 发明（设计）人： | 彭敏 | 申请（专利权）人： | 深圳兆日技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 梁挥;陈振 |
| 地址： | 518040广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种电子产品上电检测装置，所述装置包括包含有一输出控制端和一复位触点的一双延时时间继电器，以及包括一信号接收端、一第一组常开触点的一双线圈锁存继电器；所述双延时时间继电器的输出控制端连接至被测电子产品的电源接线端；所述被测电子产品的状态输出端连接至所述双线圈锁存继电器的信号接收端；所述双线圈锁存继电器的一第一组常开触点连接至所述双延时时间继电器的复位触点。其具有广泛适应性，而且价格低廉，具有广阔的商业应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 电子产品 检测 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子产品上电检测装置，其特征在于，包括：一双延时时间继电器；一双线圈锁存继电器；所述双延时间继电器包括一输出控制端，一复位触点；所述双线圈锁存继电器包括一信号接收端，一第一组常开触点；所述双延时时间继电器的输出控制端连接至被测电子产品的电源接线端；所述被测电子产品的状态输出端连接至所述双线圈锁存继电器的信号接收端；所述双线圈锁存继电器的第一组常开触点连接至所述双延时时间继电器的复位触点。
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