[实用新型]一种键盘测试装置无效
申请号: | 200720171524.2 | 申请日: | 2007-12-11 |
公开(公告)号: | CN201145715Y | 公开(公告)日: | 2008-11-05 |
发明(设计)人: | 潘立;王润斌;何喜;吴文生;郑春荣 | 申请(专利权)人: | 比亚迪股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/02;G01R27/02;G01R1/02;G01R1/067;G01R1/073 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 | 代理人: | 张全文 |
地址: | 518119广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种键盘测试装置,其包括用于固定待测键盘的支架、贯穿地设置有多个探针的探针部以及驱动探针部运动的探针驱动机构,该待测键盘具有接口引脚,所述驱动机构和探针部靠近支架设置,所述探针部连接于驱动机构,所述驱动机构驱动时带动探针部运动,使得所述探针部的多个探针在测试时运动到与支架上的待测键盘的接口引脚电气接触的位置。本实用新型提供的键盘测试装置具有成本低、测试方便快速等特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 键盘 测试 装置 | ||
【主权项】:
1、一种键盘测试装置,其包括用于固定待测键盘的支架,该待测键盘具有接口引脚,其特征在于,所述键盘测试装置还包括贯穿地设置有多个探针的探针部和驱动探针部运动的探针驱动机构,所述探针驱动机构和探针部靠近支架设置,所述探针部连接于探针驱动机构,所述探针驱动机构驱动时带动探针部运动,使得所述探针部的多个探针在测试时运动到与支架上的待测键盘的接口引脚电气接触的位置。
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