[实用新型]透射电镜中一维纳米材料测试载片无效
| 申请号： | 200720173277.X | 申请日： | 2007-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN201083670Y | 公开（公告）日： | 2008-07-09 |
| 发明（设计）人： | 韩晓东;岳永海;张跃飞;张泽 | 申请（专利权）人： | 北京工业大学 |
| 主分类号： | G01N13/10 | 分类号： | G01N13/10;G01N27/00;H01J37/26 |
| 代理公司： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘萍 |
| 地址： | 100022*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 透射电镜中一维纳米材料测试载片属于纳米材料性能原位检测领域。该载片包括中心金属片(1)、两个附耳(2)、狭缝(3)、扇形燕尾槽(4)、沿狭缝(3)对称分布的至少20个圆形栅孔(5)；分布于中心金属片(1)左右两侧且处于同一直径上的两个附耳(2)，包含附耳在内的整个金属片的直径在2.8－3mm之间；垂直于附耳(2)的直径、沿中心金属片(1)一侧开口的狭缝(3)，该狭缝(3)宽度为2－50μm，长为1.2－1.5mm；位于与狭缝(3)同一直径上且与狭缝(3)相对的、在中心金属片的另一侧开口的扇形燕尾槽(4)，扇形燕尾槽缺口半径为0.2－0.3mm，圆心角为30－45°。本实用新型结构简单，便于操作，可正带轴下实现对一维纳米材料的结构信息的把握，及的力学/电学综合性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 透射 电镜中一维 纳米 材料 测试 | ||
【主权项】：
1.透射电镜中一维纳米材料测试载片，其特征在于，该载片包括中心金属片(1)、两个附耳(2)、狭缝(3)、扇形燕尾槽(4)、沿狭缝(3)对称分布的至少20个圆形栅孔(5)；各部分的位置为：分布于中心金属片(1)左右两侧且处于同一直径上的两个附耳(2)，包含附耳在内的整个金属片的直径在2.8-3mm之间；垂直于附耳(2)的直径、沿中心金属片(1)一侧开口的狭缝(3)，该狭缝(3)宽度为2-50μm，长为1.2-1.5mm；位于与狭缝(3)同一直径上且与狭缝(3)相对的、在中心金属片的另一侧开口的扇形燕尾槽(4)，所述的扇形燕尾槽缺口半径为0.2-0.3mm，圆心角为30-45°；所述的圆形栅孔(5)直径为50-120μm。
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