[实用新型]基于格雷码和线移条纹的结构光三维测量装置无效

专利信息
申请号: 200720186308.5 申请日: 2007-12-19
公开(公告)号: CN201181204Y 公开(公告)日: 2009-01-14
发明(设计)人: 于晓洋;吴海滨 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G01B11/03 分类号: G01B11/03
代理公司: 哈尔滨东方专利事务所 代理人: 陈晓光
地址: 150040黑龙江省*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 基于格雷码和线移条纹的结构光三维测量装置,光学三维测量技术是获取物体三维信息最有效的手段之一,它属于非接触测量,不需接触被测物表面和高采样密度是其主要优点,目前视觉三维检测技术的重点发展方向包括结构光、立体图像、莫尔法、全息法、激光雷达等方法,其中结构光法显示了在分辨率及测量速度上的优势。本产品组成包括:投射编码图案的DLP投射器(2),所述的投射编码图案的DLP投射器(2)通过电线与一个产生编码图案的计算机(1)联接,所述的一个产生编码图案的计算机(1)通过电线与一组采集编码图像的数字摄像机3联接。本产品应用于三维测量技术中。
搜索关键词: 基于 格雷码 条纹 结构 三维 测量 装置
【主权项】:
1.一种基于格雷码和线移条纹的结构光三维测量装置,其组成包括:投射编码图案的DLP投射器,其特征是:所述的投射编码图案的DLP投射器通过电线与一个产生编码图案的计算机联接,所述的一个产生编码图案的计算机通过电线与一组采集编码图像的数字摄像机联接。
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