[实用新型]X荧光测厚光谱仪有效
| 申请号： | 200720196524.8 | 申请日： | 2007-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN201177501Y | 公开（公告）日： | 2009-01-07 |
| 发明（设计）人： | 刘召贵;应刚;胡晓斌 | 申请（专利权）人： | 江苏天瑞信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B15/02 | 分类号： | G01B15/02;G01N23/223 |
| 代理公司： | 深圳市凯达知识产权事务所 | 代理人： | 刘大弯 |
| 地址： | 215347江苏省昆*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种X荧光测厚光谱仪，包括机身和与之相连的电脑，其特征在于：所述机身包括外壳机身和样品腔，其特征在于：所述样品腔包括可上下活动的透明屏蔽罩。所述机身内设有样品腔，所述样品腔包括升降平台、电机、导轨和按键，升降平台在电机拉动下，沿着导轨上下平稳地移动，移动的方向和距离通过按键控制。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 光谱仪 | ||
【主权项】：
1、一种X荧光测厚光谱仪，包括机身和与之相连的电脑，所述机身包括外壳(1)、机身(2)和样品腔(3)，其中，所述外壳(1)罩在所述机身(2)外面，所述样品腔(3)设在所述机身(2)内，其特征在于：所述样品腔(3)包括可上下活动的透明屏蔽罩(4)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏天瑞信息技术有限公司，未经江苏天瑞信息技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200720196524.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
