[发明专利]光掩模用基板以及光掩模和该光掩模的制造方法无效
申请号: | 200780001862.4 | 申请日: | 2007-11-06 |
公开(公告)号: | CN101548238A | 公开(公告)日: | 2009-09-30 |
发明(设计)人: | 菅原浩幸 | 申请(专利权)人: | 吉奥马科技有限公司 |
主分类号: | G03F1/08 | 分类号: | G03F1/08;H01L21/027 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李贵亮 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种通过湿式蚀刻可高精度地形成微细图案的光掩模用基板、光掩模以及该光掩模的制造方法。一种光掩模用基板(2),其具备透明基板(10)、具有半透射性的半透射层(20)、形成于该半透射层(20)上且对照射光实质上遮光的遮光层(33),其中,半透射层(20)由氮化钛(TiNx:在此,0<x<1.33)形成,该氮化钛与遮光层(33)相比,相对于蚀刻液(A)为不溶性或难溶性,并且相对于蚀刻液(B)为易溶性。另一方面,遮光层(33)由金属铬(Cr)形成,该金属铬(Cr)与半透射层(20)相比,相对于蚀刻液(A)为易溶性,并且相对于蚀刻液(B)为不溶性或难溶性。由于各层相对于蚀刻液的蚀刻耐性不同,故可不对其它层造成损伤地选择性地蚀刻半透射层(20)和遮光层(33)。 | ||
搜索关键词: | 光掩模用基板 以及 光掩模 制造 方法 | ||
【主权项】:
1、一种光掩模用基板,其具备透明基板、形成于该透明基板上且相对于照射光具有半透射性的第一层、以及形成于该第一层上且对照射光实质上遮光的第二层,该光掩模用基板可形成由该第二层形成的遮光图案在表面露出的遮光部、由所述第一层形成的半透射图案在表面露出的半透射部、以及所述透明基板在表面露出的透明部,其特征在于,所述第一层与所述第二层相比,相对于第一蚀刻液为不溶性或难溶性,并且相对于第二蚀刻液为易溶性,所述第二层与所述第一层相比,相对于所述第一蚀刻液为易溶性,并且相对于所述第二蚀刻液为不溶性或难溶性。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
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