[发明专利]IC测试方法和装置有效
| 申请号： | 200780001973.5 | 申请日： | 2007-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN101371153A | 公开（公告）日： | 2009-02-18 |
| 发明（设计）人： | 汤姆·瓦叶尔斯;约翰·C·梅尔勒韦德;戴维·P·普里斯;诺贝特·斯科曼;吕迪格·佐尔巴赫;埃尔韦·弗勒里;约瑟夫·R·珀尔斯 | 申请（专利权）人： | NXP股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 朱进桂 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 提供一种测试包括多个核心的集成电路的方法，至少两个核心具有不同频率的、不同的相关联的第一和第二时钟信号。采用定时在测试频率(TCK)下的定时扫描链提供测试信号。在时钟电路复位信号(clockdiv_rst)中提供转变，触发时钟分频电路(44)工作，该时钟分频电路(44)从集成电路的内部时钟(40)获取第一和第二时钟信号(clk_xx、clk_yy、clk_zz)。因此第一和第二时钟信号开始于实质上相同的时间，并且在测试模式期间被用于集成电路的测试。测试之后，采用定时在测试频率(TCK)下的定时扫描链输出测试结果。还提供定时硬件，并且这提供了全速测试，使得能够在用于移位模式的相对较慢测试仪驱动时钟和用于测试模式的由片上PLL和分频电路产生的较快时钟之间动态(on the fly)切换。 | ||
| 搜索关键词： | ic 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测试包括多个核心的集成电路的方法，至少两个核心具有不同频率的、不同的相关联的第一和第二时钟信号，该方法包括：在第一扫描模式期间，采用定时在测试频率(TCK)下的定时扫描链为电路提供测试信号；结束第一扫描模式；随后在时钟电路复位信号(clockdiv_rst)中提供转变；采用在时钟电路复位信号(clockdiv_rst)中的转变触发时钟分频电路(44)的操作，时钟分频电路(44)从集成电路的内部时钟(40)获取第一和第二时钟信号(clk_xx、clk_yy、clk_zz)，使得第一和第二时钟信号开始于实质上相同的时间；在测试模式期间，执行集成电路的测试，所述至少两个核心采用从第一和第二时钟信号(clk_xx、clk_yy、clk_zz)获取的配时(clk_g_xx、clk_g_yy、clk_g_z1、clk_g_z2)来定时，以及结束测试模式，并开始第二扫描模式，在第二扫描模式期间采用定时在测试频率(TCK)下的定时扫描链输出测试信号的结果。
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