[发明专利]用于测试平板显示器设备的系统及其方法有效
| 申请号： | 200780005749.3 | 申请日： | 2007-02-15 |
| 公开（公告）号： | CN101384948A | 公开（公告）日： | 2009-03-11 |
| 发明（设计）人： | 金柄郁;李骐范;金容宇;朴美仙;洪振燮;金玮镕 | 申请（专利权）人： | 株式会社东进世美肯 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京金信立方知识产权代理有限公司 | 代理人： | 黄 威;张 彬 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种用于测试平板显示器的系统，该平板显示器具有平面显示板组件，该系统包括：测试平台，其用于布置平面显示板组件；测量装置，其被配置在测试平台上并用于测量来自光源并穿过平面显示板组件的测量区域的透射光的光谱；传送装置，其用于使测量装置在测试平台上以等加速度移动；以及缺陷报告装置，其被电连接到测量装置并用于通过处理从测量装置传输的光谱的电信号来报告缺陷的存在、缺陷类型以及缺陷的严重程度。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 平板 显示器 设备 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种用于测试平板显示器的系统，该平板显示器具有平面显示板组件，该系统包括:测试平台，其用于布置所述平面显示板组件；测量装置，其配置在所述测试平台上并用于测量来自光源并穿过所述平面显示板组件的测量区域的透射光的光谱；传送装置，其用于使所述测量装置在测试平台上以等加速度移动；以及缺陷报告装置，其被电连接到所述测量装置并用于通过处理从所述测量装置传输的光谱的电信号来报告缺陷的存在、缺陷的类型以及缺陷的严重程度。
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