[发明专利]重叠密度(OD)热图及一致性数据显示有效

专利信息
申请号: 200780005979.X 申请日: 2007-02-21
公开(公告)号: CN101385062A 公开(公告)日: 2009-03-11
发明(设计)人: T·阿布什尔;G·M·巴尼克;K·奈德伟得 申请(专利权)人: 生物辐射实验室股份有限公司
主分类号: G09G1/08 分类号: G09G1/08
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 刘 佳
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 以有益地简化较大数据集中的趋势可视化的方式生成或提供多个数据集的重叠显示的系统和方法。可对多个类似数据集生成2维事件计数阵列。阵列中的每个元素的值是对应的数据值对x、y在N个数据集中出现的次数,其中每个数据元素对应于x与y数据值的离散间隔。一旦生成阵列,就可通过将期望重叠百分比与每个阵列元素的值作比较来生成重叠密度的图形显示。具有满足期望重叠百分比的值的那些阵列元素作为显示对象使用表示重叠百分比的变化程度的一种或多种色彩、阴影和/或图案来再现。
搜索关键词: 重叠 密度 od 一致性 数据 显示
【主权项】:
1. 一种显示多个类似数据集的方法,所述方法包括:接收N个数据集,每个数据集包括表示量x和y的两对或多对数据值;通过对每个阵列元素确定事件计数值M来生成包括X乘Y个元素的事件计数阵列,其中每个事件计数值M是对应数据值对x、y在所述N个数据集中出现的次数,其中每个阵列元素对应于x和y数据值的离散间隔;接收重叠密度的指示,所述指示标识数据重叠百分比;确定落在所标识的重叠百分比内的所述阵列元素;以及生成用于表示所述阵列中落在所标识的数据重叠百分比内的所述元素的图形显示的图形数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于生物辐射实验室股份有限公司,未经生物辐射实验室股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200780005979.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top